聯訊儀器 | 單波224Gbps采樣示波器和時鐘恢復單元 助力1.6T眼圖測試

  ICC訊 聯訊儀器宣布推出內置時鐘恢復的采樣示波器DCA1065和獨立時鐘恢復單元CR3302，滿足最新1.6T AI光互連算力接口 / 單波224Gbps PAM4信號時鐘提取和眼圖分析。

  隨著AI(人工智能)以前所未有的速度蓬勃發展，海量數據驅動AI智算中心內部帶寬需求不斷提升。據Dell’Oro Group 預測，2025年是1.6T開始商用的元年，憑借超高的帶寬和傳輸速率，1.6T將成為支撐AI算力提升的關鍵，于2027年成為主流。

  AI/ML訓練對網絡帶寬和可靠性的更高要求，算力接口作為數據交互的核心樞紐，性能優劣直接決定了整個AI系統的運行效率和穩定性。隨著帶寬進一步升級到1.6T，算力接口的測試尤為重要，一個故障或未優化的光模塊可能中斷整個AI工作負載，造成巨大的時間和資金浪費，網絡設備制造商及光模塊廠商必須對算力接口進行嚴格的測試來確保通信質量，這需要具有高帶寬、高靈敏度、低噪聲且符合行業標準的采樣示波器+時鐘提取單元來完成精準測試。

  DCA1065內置時鐘恢復采樣示波器

  CR3302獨立時鐘恢復單元

  單波224GbpS PAM4信號全速率時鐘恢復與眼圖分析

  專為1.6T光互連算力接口時鐘提取和眼圖分析而設計制造

  聯訊專注于高端光電測試儀器的自主研發和生產，通過核心芯片/器件的不斷突破、核心算法的不斷完善，聯訊采樣示波器和時鐘恢復系列產品實現了快速迭代，逐步成為了高速通信信號測試分析的關鍵測試工具。隨著DCA1065和CR3302的推出，聯訊成為國際上第二家能夠支持1.6TAI算力接口模塊完整眼圖分析和時鐘提取的供應商。

  關于聯訊

  作為國內高端測試儀器領軍企業，聯訊聚焦高速通信、光芯片及半導體晶圓芯片測試領域，已形成 “儀器 + 設備 + 解決方案” 的完整生態。其產品矩陣包括：

  高速測試儀表：采樣示波器、時鐘恢復單元、誤碼儀、波長計、精密源表等

  光芯片測試設備：激光器CoC老化、裸芯片測試、硅光晶圓測試系統等

  半導體測試設備：SiC晶圓老化、SiC 裸芯片KGD測試分選、WAT晶圓參數測試系統、WLR/PLR可靠性測試系統等高端測試設備等

  行業解決方案：1.6T 光互連測試方案、CPO 共封裝光學驗證方案等

  更多產品詳情，請訪問 www.semight.com