昊衡科技發布用于無源器件測量的光矢量分析系統

  昊衡科技發布的OCI-V是一款快速檢測光學器件損耗、色散和偏振等相關參數的光矢量分析系統。其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數。

  測量參數

  偏振相關損耗PDL

  偏振模色散PMD

  插損IL

  群延時GD

  色散CD

  瓊斯矩陣參數

  光學相位

  昊衡科技的OCI-V光學矢量分析系統采用獨特光路設計以及先進算法，實現智能校準，操作簡單，極大節省測試時間，是一款實現光學器件損耗、色散和偏振測試分析的理想工具。

  昊衡科技：

  一家集研發、生產、銷售于一體的高科技公司，專業從事工業級自校準光學測量與傳感技術開發，也是國內唯一一家實現OFDR技術商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產品，主要應用于光學鏈路診斷、光學多參數測量、高精度分布式光纖溫度和應變傳感測試。已與全球多個國家和地區企業建立良好的合作關系，并取得諸多成果。了解更多詳情，請訪問昊衡科技網站http://www.mega-sense.com/。