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    超高通道數、超高性價比!NOEIC正式發布4160通道高密度可編程電源,賦能光電融合芯片研發生產

    摘要:痛點即突破點!國家信息光電子創新中心(NOEIC) 面對行業共性難題,針對客戶需求不斷提升自主源表產品的性能水平,打磨核心競爭力?,F正式發布業內首套高密度可編程電源——MCVS-4160C ,為大規模光電融合芯片的數千通道精密驅動提供高性價比源表方案。

      ICC訊 近年來,硅基光電子芯片以其CMOS兼容性、光電融合能力與超高集成度,成為信息光電子產業的關鍵驅動力之一。目前面向激光雷達、CPO、光量子和光計算等應用的硅光芯片,其單片集成規模最高可達>1萬個元器件/片! 對于如此規模的硅光芯片測試,需要借助外置電源,對片上的成百上千個熱調諧或電調諧元件進行調控。傳統外部電源受限于通道密度不足、布線復雜、信號同步性差及設備冗余占地等系統性難題,千級通道精密驅動的測試瓶頸日益凸顯,嚴重制約芯片性能驗證效率,影響開發進度。在光電融合時代,硅光芯片規模仍將持續增長,如何應對?這是全行業面臨的重大挑戰!

    圖:各類光芯片的單片集成規模趨勢

      痛點即突破點!國家信息光電子創新中心(NOEIC) 面對行業共性難題,針對客戶需求不斷提升自主源表產品的性能水平,打磨核心競爭力?,F正式發布業內首套高密度可編程電源——MCVS-4160C ,為大規模光電融合芯片的數千通道精密驅動提供高性價比源表方案。

    圖:高密度可編程電源MCVS-4160C 尺寸:482×135.8×350 mm

      產品優勢

      簡潔:單機支持高達4160通道電壓輸出,體積小,可桌面化放置,大幅簡化系統部署。

      精密:輸出電壓范圍0-5V,精度達mV級,保障絕大多數硅光芯片的熱調和電調測試需求。

      高效:支持全部通道同時輸出,每通道電流可達10mA,大幅提升測試效率。

      靈活:通道數量、輸出電壓范圍等關鍵參數均可按需定制,滿足多樣化測試需求。

      智能:提供上位機軟件接口定義及LabVIEW、Python等控制案例,輕松實現自動化測試和AI算法控制。

      典型應用場景

      該產品是集成測試工作的理想選擇,在光通信、量子通信、硅光芯片等領域都能提供有力支持,應用場景列舉如下:

      CPO、硅光收發芯片的全參數驗證

    圖:哥倫比亞大學3D光電融合互連芯片

      文獻鏈接:Daudlin, S., Rizzo, A., Lee, S. et al. Three-dimensional photonic integration for ultra-low-energy, high-bandwidth interchip data links. Nat. Photon. (2025).https://doi.org/10.1038/s41566-025-01633-0

      激光雷達光學相控陣芯片

    圖:Analog Photonics公司光學相控陣芯片,單片集成8192個元件

      文獻鏈接:Poulton, Christopher V., et al. "Coherent LiDAR with an 8,192-element optical phased array and driving laser." IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics 28.5: Lidars and Photonic Radars (2022): 1-8.

      光量子芯片的測試和調控

      圖:北大“博雅一號”超大規模集成的圖論光量子計算芯片

      文獻鏈接:Bao, J., Fu, Z., Pramanik, T. et al. Very-large-scale integrated quantum graph photonics. Nat. Photon. 17, 573–581 (2023). https://doi.org/10.1038/s41566-023-01187-z

      光計算芯片的校準和穩定

    圖:清華“太極”光子計算芯片

      文獻鏈接:Xu,Z. et al. Large-scale photonic chiplet Taichi empowers 160-TOPS/W artificial general intelligence.Science 384,6692,202-209(2024).

      大規模光交換芯片多通道驅動

    圖:U.C. Berkeley大學240×240晶圓級硅光交換陣列

      文獻鏈接:Seok, Tae Joon, et al. "Wafer-scale silicon photonic switches beyond die size limit." Optica 6.4 (2019): 490-494.

      指標參數

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