OFC 2023 | 菲萊科技攜最新納秒晶圓測試系統參展

  ICC訊 第48屆光網絡與通信研討會及博覽會(OFC 2023)將于2023年3月7-9日在美國圣地亞哥舉行。領先的光芯片測試及可靠性設備提供商上海菲萊測試技術有限公司將攜納秒晶圓測試系統、全自動晶圓AOI系統等亮相此次展會。展位號#6325，歡迎廣大業內同仁及客戶蒞臨交流與合作。

  參展信息：

  上海菲萊測試技術有限公司

  展會名稱：OFC 第48屆 光網絡與通信研討會及博覽會

  展會時間：2023年3月5-9日

  展會地點：美國.加州,圣地亞哥

  展位號：#6325

  菲萊科技在OFC現場重點展示的產品包括：

  · 400G/800G硅光芯片耦合系統

  · 納秒晶圓測試系統、

  · 全自動晶圓AOI系統、

  · 激光芯片老化系統、

  · 高功率激光老化系統、

  · SiC晶圓級老化系統、

  · 芯片加載和卸載系統

  關于菲萊科技

  菲萊科技是一家半導體測試設備和相關服務提供商，致力于幫助客戶解決半導體芯片測試和可靠性問題。產品包括：納秒晶圓測試系統、400G/800G硅光芯片耦合系統、全自動晶圓AOI系統、激光芯片老化系統、高功率激光老化系統、SiC晶圓級老化系統、芯片加載和卸載系統、內存燒錄系統、IGBT燒錄系統等。

  菲光科技是菲萊科技全資子公司，致力于為芯片設計公司及晶圓代工廠提供芯片初級封裝及測試服務，如：Vcsel芯片后處理、RGB芯片封裝和測試、各種激光芯片CoC/COS可靠性測試、激光雷達發射模塊測試及驗證。

  垂詢方式

  郵箱：Eric.liu@feedlitech.com

  電話：18688779380