Dimension：高性能免纏繞插回損測試方案

訊石光通訊網發布時間:2020/4/10 9:05:42 編者:iccsz

摘要：維度科技的高性能免纏繞插回損測試方案，采用自研的高性能光源和高精度光功率計，很好地解決了插回損測試中經常遇到的諸如測試效率低、測試范圍小、需要纏繞、不能測量較短光纖等問題，具有前所未有的易用性和突出優勢，是目前單芯、MPO光纖跳線、連接器及其他無源器件插回損性能測試的理想選擇。

ICC訊 維度科技的高性能免纏繞插回損測試方案，采用自研的高性能光源和高精度光功率計，很好地解決了插回損測試中經常遇到的諸如測試效率低、測試范圍小、需要纏繞、不能測量較短光纖等問題，具有前所未有的易用性和突出優勢，是目前單芯、MPO光纖跳線、連接器及其他無源器件插回損性能測試的理想選擇。

附：接口選型列表：

更多詳情：http://www.dimension-tech.com

內容來自：深圳維度科技微信公眾號
本文地址：http://www.537mt.com//Site/CN/News/2020/04/10/20200410010936666567.htm 轉載請保留文章出處
關鍵字: 維度科技測試方案
文章標題:Dimension：高性能免纏繞插回損測試方案

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