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    安捷倫新推光纖偏振解決方案

    摘要: 安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)針對光纖組件和系統的研發與制造,在旗下的光纖測試組合中加入6款新的偏振分析與控制解
     
        安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)針對光纖組件和系統的研發與制造,在旗下的光纖測試組合中加入6款新的偏振分析與控制解決方案。這些新產品可讓研究與設計人員以無可比擬的速度和準確度,對所有偏振相關參數進行完整的特性描述。安捷倫將在9月17-19日于德國柏林國際會議中心舉辦的歐洲光纖通訊展(ECOC)中,在15號展示館的069 - 074號攤位首次展示這些產品。
     
        這些產品是以安捷倫在2007年6月購并的Adaptif Photonics所開發、且經產業證實可靠的技術為基礎。對制造商來說,這個新的產品組合針對校準、調整和最終測試提供 了快速又經濟的控制與測試解決方案,有助于降低測試成本及提升良率和產能。
     
        安捷倫新款偏振產品與測試解決方案
     
        .N7781A是一款小巧的高速偏振分析儀,它具備了分析光纖信號的偏振特性的完整能力,包括邦加球(Stokes參數)的偏振狀態(SOP)再現。
     
        .N7782A PER分析儀是為了以高速及絕佳準確度來測試PM光纖的偏振消光比(PER)而設計。實時量測能力加上自動化接口,使這款儀器非常適合整合到制造系統中,例如光纖組件的引線處理臺。
     
        .N7783A熱循環裝置完全由Agilent N7782A PER分析儀所控制,它可為待測光纖提供準確又穩定的溫度循環。
     
        .新的偏振控制器系列“ N7784A、N7785A和N7786A ”,即使輸入SOP因溫度偏移和機械穩定過程而產生波動和偏移,也能提供穩定的輸出SOP。這可以提升校準和調整過程的速度與可靠度,從而節省時間和成本。Agilent N7786A內建一個偏極計,可提供高速的偏振分析能力;在每秒高達1M個取樣的取樣率下可擷取超過500,000個取樣。
     
        .N7788A組件分析儀的專屬技術可媲美著名的光纖組件瓊斯矩陣本征分析(Jones-Matrix-Eigenanalysis; JME)或差動群組延遲(DGD)。安捷倫新的單一掃描技術提供了一組完整的參數,包括DGD/ PMD / PDL / 二階PMD、功率 / 損耗、TE / TM損耗、主偏振狀態 (PSPs)、及Jones和Mueller矩陣,這些全都整合在一臺測試儀器中。
     
    來源:光電新聞網
    內容來自:本站原創
    本文地址:http://www.537mt.com//Site/CN/News/2007/08/27/20070827102057812500.htm 轉載請保留文章出處
    關鍵字: 安捷倫
    文章標題:安捷倫新推光纖偏振解決方案
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