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    LTE測試技術挑戰,共創4G時代美好未來

    摘要:2013年12月27日下午,第九屆IMCA 國際儀器儀表與測控自動化高峰論壇暨“2013 TD-LTE測量測試核心技術大會”,在深圳馬可孛羅好日子酒店舉辦并圓滿成功!迎接4G時代LET測量測試帶來的變革和挑戰,LTE將為測量測試產業鏈帶來前所未有的發展機遇。此屆測量測試業界翹楚聚焦的2013 TD-LTE測量測試核心技術大會,以“4G時代,共創美好未來”為主題成功打造了一個高水準的高峰論壇。

    內容來自:訊石光通訊咨詢網
    本文地址:http://www.537mt.com//Site/CN/News/2014/01/08/20140108033910433800.htm 轉載請保留文章出處
    關鍵字: LTE 測試設備
    文章標題:LTE測試技術挑戰,共創4G時代美好未來
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