TIA生產測試解決方案—Multilane攜手Advantest打造高速解決方案

  ICC訊 作為高速測試行業的領導者,MultiLane將其領先的誤碼儀和數字采樣示波器集成到Advantest 的 V93000 ATE 測試機臺，擴展了ATE機臺數字和模擬驗證，以及產線測試性能。

  高度集成的BERT和DSO提供32個通道的測試能力，最高可達112 Gbps PAM4和50 GHz輸入帶寬。

  利用這一獨特的集成方案，MultiLane的設備可以進行數字和模擬FT以及CP 測試,包括serdes測試、發射機、放大器、具有高速 I/O 的 ASIC 以及其他有源和無源高速設備。以太網、HDMI 2、USB 3/4、PCIe 5/6、光纖通道等測試都可以支持。BERT 和示波器還可用于 IC 驗證、檢定和生產測試。

  其中針對TIA的CP和FT測試方案，目前已經成功運用于全球領先的TIA芯片制造商產線測試，產線普及率遍及北美，新加坡，馬來西亞，臺灣。國內也已經有領先的TIA芯片廠商開始引入此方案進行小批量生產測試, ATE自動化測試方案，完美解決了TIA CP測試中探測的難點問題。

  Advantest攜手Multilane提供了一體化平臺方案，以確保兩家公司設備的最優性能。Bert和DSO直接安裝在客戶load board的下面，開孔的測試延展支架叫做Twinning Frame。由于十分靠近load board, Bert/DSO和DUT之間可以以非常短的距離進行信號傳輸，確保了信號完整性和準確性。

  上圖所示為Multilane ATE測試方案的總攬，multilane設備的信號通過連接器連接到芯片上，并通過發送PRBS信號來檢測芯片的接受和發送信號的能力。

  主要性能：

  ·  32條lane同步測試

  ·  支持NRZ&PAM4信號

  ·  高度集成和固定的RF線纜

  ·  支持V93000 Smartest軟件API

  ·  Multilane提供分析軟件

  ·  直接與V93000集成

  ·  支持wafer和package測試

  ·  可充當實驗室設備以及ATE測試設備，移動方便

  ·  直接dock到V93000上面，提供了快速和可靠的測試，以及支持各種類型的handler和wafer prober。

  數字采樣示波器介紹

  ·  50 GHz 輸入帶寬

  ·  使用優化的快速采樣和 DSP硬件，以及最智能的軟件

  ·  豐富的內置 DSP 濾波器，例如貝塞爾-湯姆森、CTLE、DFE、FFE和組件仿真

  ·  去嵌工具用于補償高速信號中的插入損耗

  ·  內置標準模板

  ·  一套完整的 API 和多個 SmarTest示例代碼以加快集成速度。

  數字示波器產生眼圖，可以快速清晰的查看信號的完整性

  BERT（誤碼儀）介紹（根據不同模塊而定）

  ·  4-Lane BERT最高支持 56 GBd PAM4/NRZ

  ·  高速時鐘輸出最高 7 GHz

  ·  真實 FEC 和格雷碼

  ·  PRBS7， 9， 13， 15， 23， 31， 58

  ·  PRBS13Q， 31Q

  ·  最高高達1800mVppd的電壓擺幅

  ·  通過算法生成pattern

  ·  自定義pattern：64bit可以重復至 255 次，并根據需要重復

  誤碼儀可以抓取histogram，也可以做誤碼率分析，部分型號支持抖動注入。

  Multilane將這套設備集成到V93000中，使得V93000也具備了進行超高速信號的測試功能。并且可以在V93000的集成軟件中控制multilane的設備，相對于傳統設備一體化與自動化集成度更高,保證了最優的信號完整性，是高速信號生產測試的完美解決方案。

  詳情請咨詢Multilane中國區銷售經理：林瑤，13621907413，alin@multilaneinc.com 歡迎致電！