專訪上海菲萊：打造先進老化可靠性測試平臺 保障光芯片高品質和一致性

  ICC訊（編輯：Cecilia）  如今，光網絡正在演進為新一代具備數字化和綜合承載能力的全光底座，給光通信產業鏈帶來新一輪發展機遇。近日，訊石采訪了光芯片Wafer/Die/COC老化和測試裝備及服務提供商—上海菲萊測試技術有限公司(簡稱上海菲萊)，了解芯片檢測驗證對于光芯片和光通信網絡的價值。

  上海菲萊副總經理劉力波向訊石介紹，公司成立于2018年，定位于光芯片(從wafer到COC)的測試以及AOI檢測，并設有菲萊科技、菲光科技兩個自主品牌，專注于為客戶提供專業的光芯片工藝、測試、老化及可靠性驗證設備和代工服務，面向3D傳感領域，消費電子和光通訊領域，支持諸多光芯片(VSCEL/DFB/DBR/Pump Laser/Silicon photonics等)，目前公司成功與知名設備大廠建立穩定的合作關系，向其銷售的可靠性測試設備已超過100臺。

  光模塊是光網絡的核心部件，光芯片則為光模塊提供傳輸能力，其的使用壽命和工作性能影響光網絡連接質量。嚴格、高效的芯片檢測和可靠性驗證，是保障產品一致性和高品質的關鍵工序。光通信產業曾多次迭代，合格的高速光模塊必須經受苛刻的品質驗證，光芯片作為最大的故障來源是首要檢測對象。而當前多數光芯片廠商無法覆蓋全部環節，特別是芯片級的老化和可靠性測試，這給上海菲萊的專業檢測服務提供市場空間。

菲萊專利與證書墻

  劉力波表示，針對光通訊市場旺盛需求和工藝特點，上海菲萊提前布局團隊、產品和服務。公司現有員工90余人，包括一只技術精湛的研發團隊，在光芯片制造領域有豐富的從業經驗，核心技術人員長期從事光芯片后道相關工藝、測試及可靠性研究，對光芯片生產制造工藝和應用有深刻的理解。

  在產品方面，公司開發的VCSEL測試系統支持LIV+光譜測試，CW、QCW條件可自由配置，使用TEC+水冷進行溫度控制，溫度穩定性高，可控范圍大，可適用于Wafer/Die/COB封裝單個VCSEL或VCSEL陣列測試。

COC測試臺(左) 和CCO老化系統(右)

  針對光芯片常用的老化測試，公司推出了中、低功率激光器老化平臺，該平臺采用遠超20000小時運行的成熟軟件，支持平臺預警，數據實時提示和上傳。溫控系統為獨立加熱系統或加熱制冷系統，靈活配置不同溫區條件。該平臺具有COC在線光功率監控系統，公司是國內唯二家能出貨帶有此功能的測試設備廠商，2020年還獲得了歐盟認證。

無錫基地產線

  劉力波還表示，激光器老化平臺平臺采用全自動生產調試，可實現2個月內快速交付，目前已達到100臺以上批量交付運行。除此之外，上海菲萊還推出測試校準系統、精密家具，針對COB、TO封裝產品的烤箱式老化系統，旨在為客戶提供完整的光芯片測試服務。

武漢潔凈車間

  公司預計，光通訊核心光芯片國產化程度持續上升，突破多款高速光芯片國外壟斷，公司緊抓市場機遇，在上海、天津、無錫、武漢設立公司，打造3000平方米的無錫制造服務基地，該基地配備一個600平方米的萬級凈化車間，以及3000平方米的武漢制造服務基地，該基地同樣配備1300平方米的千級、萬級凈化車間。上海菲萊還堅持測試設備核心零部件的自主可控，開發低成本的驅動電源、自主設計精密夾具，以及開發穩定、恢復和易糾錯的系統軟件，最大保障程度保障設備服務的可靠性。

  當前，光芯片產業鏈正在持續迭代演變，上海菲萊將堅守在關鍵的配套檢測環節上，打造先進的光芯片老化和可靠性測試服務平臺，幫助光芯片產業和客戶實現未來更大的市場價值。