中興與Altair完成LTE IODT測試

C114訊 北京時間2月18日凌晨消息（蔣均牧）據國外媒體報道，中興通訊與半導體廠商Altair在各自的產品上完成了廣泛的系統級互操作性和互用性測試（IODT）。這一測試的成功證實了這兩家公司的LTE產品的性能和成熟度，不久后雙方將進行現網測試。 

        測試在中興的LTE基站設備與Altair最近發布的FourGee LTE USB ExpressCard UE之間進行。 

        據C114了解，截至2009年底，中興已累計申請了1700多件LTE/SAE專利，并將成為LTE/SAE標準基本專利的主要擁有者之一。

        據Altair的資料顯示，FourGee LTE USB ExpressCard UE解決方案基于公司的FourGee-3100/6200寬帶/RFIC LTE芯片，提供下行100Mbps和上行50Mbps的峰值速率，可在2700MHz頻段間支持FDD/TDD LTE。