Santec重磅新品！多通道偏振消光比測試儀， 30dB 高精度 PER 測量，效率與精準雙飛躍

  隨著AI大模型參數量突破10萬億級，數據中心帶寬需求呈指數級增長。在此背景下保偏FAU（Fiber Array Unit, 光纖陣列單元）以及ELSFP (External Laser Small Form-Factor Pluggables，外接激光光源可插拔模塊) 迎來了潛在的大規模發展。

  為了更好地滿足數據中心對光通信設備性能的要求，Santec 推出了全球首款多通道偏振消光比PER測試儀PEM-400。其能夠對保偏FAU、ELSFP等光通信設備的偏振消光比進行精準測量，確保這些設備在數據中心的高速通信網絡中發揮出最佳性能，從而為AI大模型的高效運行提供有力支撐。

  解決目前多通道PER測試痛點

  針對多通道保偏FAU以及ELSFP的PER測試，目前行業內只有單通道PER測試儀，用戶需要手動通過夾具調節對準每個通道來測試PER，測試效率低下并且因為手動對準夾具引入了不確定因素導致PER測試結果不準確。

  PEM-400 通過在高速功率計前設置旋轉起偏器來測量多通道高達 30 dB 的偏振消光比和偏振角，同時，還可以測量無源組件的插入損耗（Insertion Loss, IL）或有源組件的輸出功率。

  產品亮點

  多通道 PER 測試：集成了Santec高穩定的光開關（repeatability± 0.005 dB）實現了優越的多通道PER測量，輸出端口高達24個。

  高達30dB的PER測量能力：獨特的光學設計，使其擁有高達30dB PER的測量能力。

  一次連接完成所有測試：無需重新定位被測產品的通道或者使用校準平臺來耦合被測產品，實現一次連接即可完成所有通道的PER, 插入損耗（或光功率）以及偏振角度的測量。

  快速測量：獨有專利3mm直徑的探測器，使其擁有行業內最快的自動化測試速度，一根12芯的光纖陣列單元FAU能在30s內完成所有通道的測量。

  測量參數：偏振消光比PER, 偏振角度Angle，插入損耗IL（或者絕對光功率Absolute Power）。

  可定制化：靈活的設計，使其實現定制化，滿足不同波長偏振光源以及不同通道的測量需求。

  外置探頭：即將發布的外置探頭版本，能滿足客戶復雜的測試系統環境的搭建需求。

  測試系統

  1.    多通道光纖陣列FAU的PER，Angle以及IL測量系統(需要參考跳線)

  2.    多通道光纖陣列FAU的PER，Angle測量系統（無需參考跳線）

  3.    有源器件測試，如ELSFP, 測量PER以及絕對功率等參數

  官網：www.santec.com.cn

  電話：021-58361261