2019 CIOE | 杭州維勘FA光纖陣列干涉儀、FA光纖陣列檢測儀亮相CIOE

  ICCSZ訊 9月4-7日，第21屆中國國際光電博覽會在深圳會展中心圓滿舉辦。光器件測試設備商、光學檢測專家杭州維勘科技股份有限公司(簡稱杭州維勘)隆重展出了FA光纖陣列干涉儀、FA光纖陣列檢測儀等高精度光學測試設備，跟光通信連接器件企業和行業專家展開廣泛的交流合作。

杭州維勘光學檢測儀器系列

  在本屆CIOE光博會上，杭州維勘隆重展出了新產品WKFI-FA(FA光纖陣列干涉儀)，這是一款測量FA光纖陣列端面3D指標的專用儀器，采用非接觸式白光和紅光干涉原理，選用高端光學顯微系統、超清晰的高速相機，測量具有很高的重復性和復現性。夾具采用可快速更換的方案，可以適應客戶不同規格產品的測量需求。

  據介紹，它可以測量2.0×1.0、2.0×2.0、3.5×1.2等多種規格FA光纖陣列，可以根據客戶要求定制夾具。自動校準、自動對焦、自動識別端面面型，先進高效的自動對焦模塊，自動識別端面面型并從最佳位置開始掃描，無需任何硬件調整即可完成測量。它擁有完美的3D圖像，通過拖動鼠標可輕易掌握任意位置的光纖剖面及3D圖像，方便用戶直觀了解產品端面研磨狀況并進行工藝改進。穩定且高速的數據傳輸，緊固式的USB3.0接口，極大地提高了測量的穩定性及抗震性，在任何情況下都擁有穩定而高速的數據傳輸。

  杭州維勘的另一款新產品是WKVG(FA光纖陣列檢測儀)，這是一款專門用于測量光纖通信部分的V槽板和光纖陣列的儀器設備，有助于光通信部件的高精度生產，它可以使連接損耗降到最低，并保持相同形狀的高密度。

  基于超大的工作臺面，最大可以支持對80mm×80mm的裸基板進行檢測。它擁有豐富的夾具配置，平臺前端使用專用夾具對產品進行夾持，通過更換夾具即可提供對各種成品、半成品、非標品的夾持，Z軸平臺可根據不同樣品厚度調整高度，確保最佳的光照成像。還有精密的自動控制，可以搭載精密自動對焦、自動位移系統，實現高精度、高可靠的測量。它還基于圖像分析的測量，通過機器視覺對圖像進行X、Y軸距離的誤差累積分析，先進的算法可以補償機械平臺移動造成的誤差。

杭州維勘與訊石編輯合影

  杭州維勘科技股份有限公司（WEKON）

  維勘科技成立于2012年，位于杭州市濱江區海外高層次人才創新創業基地，是“國家高新技術企業”、“杭州市青藍計劃企業”、“杭州市5050計劃企業”。

  維勘科技由著名海歸博士帶頭，聯合浙江大學、中國計量大學，打造高素質、高水平的研發團隊，引領行業快速發展。在視覺檢測、圖像算法、軟件編程、機械設計、自動化領域積累了豐富經驗，目前已取得多項發明專利和實用新型專利。

  維勘科技歷經多年的發展，已經制造出多款精密檢測設備?！癕T插芯端面研磨機、FA光纖陣列檢測儀、FA光纖陣列端面3D干涉儀、單芯光纖連接器端面3D干涉儀、MPO多芯光纖連接器端面3D干涉儀、MPO帶纖線序檢測儀、光纖端面缺陷檢測儀、陶瓷插芯內徑分揀機”等儀器已服務眾多企業用戶。產品通過國家權威機構認證并獲得業內客戶的高度認可，部分產品已遠銷國外市場。

  公司官網：www.wekontech.com

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