昊衡科技推出光學矢量分析系統

  ICC訊 昊衡科技專注于高端光學測量與傳感測試系統研發和解決方案開發，擁有OFDR核心技術，并成功推出OCI通信系列、OSI傳感系列等多款OFDR商用產品。近期昊衡科技發布重磅新品---OCI-V光學矢量分析系統。

  圖1 OCI-V 設備圖

  隨著高速光通信發展，光器件種類多、迭代快，對測量儀要求更高。而在新興平面光波導和硅光芯片領域，其對儀表測量精確性、穩定性和操作便利性等各方面提出前所未有的挑戰。OCI-V光學矢量分析系統能夠同時測量光學網絡損耗、偏振、色散等信息，分析光器件在寬譜、精細波長下的損耗和時延。其功能強大、操作方便，在光器件的研發、生產全過程中發揮重要作用，為改善設計、優化結構和評估工藝等提供可靠依據。

  OCI-V光學矢量分析系統，原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損(IL)、色散(CD)、偏振相關損耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多項光學參數。系統測量長度200m，可工作在C+L或O波段，具有測量范圍大、波長范圍寬、覆蓋器件廣、測量參數多等優勢。

  傾斜光柵的PDL測量圖

  硅光芯片的PMD測量圖

  HCN 吸收室的IL測量圖

  啁啾光柵的GD測量圖

  OCI-V系統采用獨特光路設計以及先進算法，進行智能校準，測量穩定性好，操作簡單，可極大節省測試時間。

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